一、设备原理:
1. 根据电子束激发的背散射电子在晶体材料晶格层面的衍射信息成像,可以分析微小区域(10nm~1mm)的组构和物相,进行夹杂物鉴定或地质组构分析。

二、设备功能
1.设备功能
1)可以分析微小区域(10nm~1mm)的组构和物相,进行夹杂物鉴定或地质组构分析
2)进行微区金相分析,获得钢铁材料微观区域的组织构成,并且具有极高的可信度和给出判别证据
3)此设备可以原位模拟金属材料的加工工艺,通过对其加工过程中各处微观形貌、微观结构和微观成分的有效表征,获得真实的材料微观信息,验证材料学相变机理,真正为类似“材料基因组”的特性材料定制提供实验工具
主要参数
1)高分辨微观尺度结构分析仪,适合金属以及原位分析
2)★专用的高速低噪音相机分辨率不低于1244*1024像素,且能够与现有实验室的场发射电镜以及能谱仪良好配合;
3)#在线解析最高标定速度不小于每秒600点,此时花样分辨率不低于311*256像素,保证弱信号检出能力;
4)取向精度高达0.05度;
5)#采用主动式防碰撞传感器设计,在碰撞发生前探测器自动预警并后撤,非接触式防撞功能,避免主动或者被动的探头损伤;
6)探测器插入退出,最快速度:15mm/s,精度:优于100μm;
7)操作软件采用多任务设计,可以同时并行数个任务,并支持分屏显示及远程控制;
8)动态自动背景扣除技术,探测器参数自动优化。切换样品、更换分析位置、以及微观尺度结构分析仪探测器伸缩后均无需重新扣除背景或重新优化;
9)电子图像分辨率高达8192*8192,面分布图分辨率高达4096*4096;
10)配置大容量晶体学数据库,数据容量不小于5万种;
11)采用最优化的Hough变换,多条带标定方法(最多可以用12条菊池带进行标定),根据平均角度偏差MAD结构因子进行完全自动化的菊池带识别和花样标定;
12)★配有专用的高精度标定模式和TKD透射样品标定模式,实现更高角度分辨率和高空间分辨率的数据标定
13)配有64位微观尺度结构分析仪数据后处理软件包,和采集软件同一风格,包含且不限于如下功能:
(1)数据修饰;(2)晶粒统计(尺寸、形态等);
(3)晶界分析;
(4)应变分析;


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